用于集电子的检测装置

基本信息

申请号 CN202021680912.5 申请日 -
公开(公告)号 CN212747642U 公开(公告)日 2021-03-19
申请公布号 CN212747642U 申请公布日 2021-03-19
分类号 G01N19/04(2006.01)I;G01B5/252(2006.01)I;G01B5/245(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 史振华;辛吉;张金艳;任丽俐;吴宇豪;蔡庆泉 申请(专利权)人 浙江长虹飞狮电器工业有限公司
代理机构 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 代理人 翁斌
地址 314000浙江省嘉兴市经济开发区城南街道朝晖路268号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种用于集电子的检测装置,包括底座、垂直度测试结构、同心度测试结构以及焊接强度测试结构;垂直度测试结构包括开设于底座上的第一针孔和圆槽;同心度测试结构包括百分表、旋转轴和顶杆;旋转轴安装于底座的背面,具有定位孔;顶杆轴向可移动装配于顶杆内,以及顶杆的端部具有顶针部;百分表固定于底座上;焊接强度测试结构包括开设于底座上的凹槽和装配于凹槽上的两块挡块,凹槽与挡块之间形成供集电子的底盖进入的限位槽,两块的挡块之间形成供集电子的铜针伸出的开口,凹槽的底壁上具有与开口对应的避让槽。本实用新型不但检测方便,而且检测精度高。