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超大尺寸电容屏单膜的开短路测试方法及装置

基本信息

申请号 CN201811617271.6 申请日 -
公开（公告）号 CN109444650B 公开（公告）日 2021-07-30
申请公布号 CN109444650B 申请公布日 2021-07-30
分类号 G01R31/52（2020.01）;G01R31/54（2020.01） 分类 测量；测试;
发明人 刘晓兵 申请（专利权）人 深圳市欧珀达科技有限公司
代理机构 广州粤高专利商标代理有限公司 代理人 陈卫;练逸夫
地址 518118 广东省深圳市坪山区坪山街道六联社区华美巷22-2
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种超大尺寸电容屏单膜的开短路测试方法和测试设备，包括如下步骤：对电容屏单模的金手指处设置与金手指导电的扩展延伸结构。采用多个独立测试电极单独与每个所述金手指的末端导电连接，同时采用一个公共测试电极与一导电长条连接，并且将所述导电长条压合在所述电容屏单膜上，形成电容结构。分别读取每个独立测试电极与公共测试电极之间的电容值和电流值，从而确定所述电容屏单膜的是否存在开路或短路。本发明通过增加测试点设计，降低探针压合治具的精准度的要求，便于治具的制作与维护。同时保护接口处金手指位置银浆不会受损。并利用条形导电体与单膜形成电容，不限于尺寸，不需要大型设备，节约测试成本，提高测试效率。