镜面形体检测方法、装置及系统

基本信息

申请号 CN202111544530.9 申请日 -
公开(公告)号 CN114218795A 公开(公告)日 2022-03-22
申请公布号 CN114218795A 申请公布日 2022-03-22
分类号 G06F30/20(2020.01)I;G06F17/18(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I 分类 计算;推算;计数;
发明人 刘治京;张淑兴;位召祥;刘世学;吴昊;荆汝林;林彬 申请(专利权)人 中国广核集团有限公司
代理机构 华进联合专利商标代理有限公司 代理人 吴平
地址 518048广东省深圳市福田区上步中路1001号深圳科技大厦
法律状态 -

摘要

摘要 本申请涉及一种镜面形体检测方法、装置及系统,利用数据采集器向定目镜的镜面不同位置投射采集点,并得到各个采集点对应的采集点参数,之后结合采集点参数进行非均匀有理B样条曲面构建,高度重构镜面面型,得到镜面对应的拟合镜面模型,之后利用构建的拟合镜面模型与预设理论镜面模型进行误差分析,直观得到当前定目镜的镜面对应的形体检测结果。上述方案,基于非均匀有理B样条的优良特性,利用采集点参数高度重构定目镜的镜面面形,精准再现且数字化定日镜实际镜面面形,无需接触定目镜的镜面,不会对镜面造成损伤,利用拟合镜面模型与预设理论镜面模型进行镜面形体检测,具有极高的检测精度。