一种10匝测试架
基本信息
申请号 | CN201920280506.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN209911461U | 公开(公告)日 | 2020-01-07 |
申请公布号 | CN209911461U | 申请公布日 | 2020-01-07 |
分类号 | G01R29/20(2006.01) | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 李伟; 李雪; 闫晓茹; 纪付江; 王树利; 孙利军 | 申请(专利权)人 | 天津奥纳富霖科技有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 301900 天津市蓟州区天津专用汽车产业园蓟运河大街20号二层 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 一种10匝测试架,它涉及检测磁芯性能领域。它包含底板、支架、气缸、测试头、测试孔、挡板、测试盘、穿线孔、测试头连接线、升降踏板、仪表连接线,所述支架固定在底板,所述支架上方固定有气缸,所述气缸伸缩端与升降踏板固定连接,所述升降踏板固定设置有测试头,所述测试头正下方的底板上贯穿开设有测试孔,在所述测试孔后方、升降踏板正下方、支架内的底板上固定设置有挡板,所述底板底部对应测试孔处设置有测试盘,所述测试孔同样贯穿测试盘的中部。本实用新型有益效果为:解决了现有技术中普遍存在的检测速度慢,产量低等问题,使用后检测速度提高了3倍以上,减轻工人的劳动强度,增加产量。 |
