首页/ 普赛微科技（杭州）有限公司/ 专利详情

基于Shmoo测试的集成电路芯片测试方法、系统及介质

基本信息

申请号 CN202110203717.6 申请日 -
公开（公告）号 CN113075527A 公开（公告）日 2021-07-06
申请公布号 CN113075527A 申请公布日 2021-07-06
分类号 G01R31/28（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 蒋信;刘瑞盛;喻涛 申请（专利权）人 普赛微科技（杭州）有限公司
代理机构 广州市越秀区哲力专利商标事务所（普通合伙） 代理人 孙柳
地址 310000浙江省杭州市临安区青山湖街道大园路1188号2幢3层3034A室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供的基于Shmoo测试的集成电路芯片测试方法，包括获取被测集成电路芯片的被测参数信息、被测集成电路芯片关联数据；将被测参数信息、被测集成电路芯片关联数据输入至预设机器学习模型中，预设机器学习模型输出与被测集成电路芯片对应的预测的工作边界结果和预测误差；根据预测的工作边界结果和预测误差在与被测参数信息对应的预设设定值取值区域内选取测试值取值区域；根据被测参数信息以及测试值取值区域控制自动测试机对被测集成电路芯片进行Shmoo测试得到精准的工作边界结果。本发明的基于Shmoo测试的集成电路芯片测试方法，减少了测试所需的时间，避免了因测试时间较长对产品的开发周期和测试成本造成影响。