集成电路测试方案的自动化生成方法和系统
基本信息
| 申请号 | CN202110667619.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113468301A | 公开（公告）日 | 2021-10-01 |
| 申请公布号 | CN113468301A | 申请公布日 | 2021-10-01 |
| 分类号 | G06F16/332（2019.01）I;G06F16/35（2019.01）I;G06F40/166（2020.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06N20/00（2019.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 蒋信;刘瑞盛;喻涛;李泽 | 申请（专利权）人 | 普赛微科技（杭州）有限公司 |
| 代理机构 | 广州市越秀区哲力专利商标事务所（普通合伙） | 代理人 | 李健 |
| 地址 | 310000浙江省杭州市临安区青山湖街道大园路1188号2幢3层3034A室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请公开了一种集成电路产品的自动化测试方法和系统，涉及芯片测试技术，方法包括以下步骤：获取集成电路产品的技术文档；从所述技术文档中提取多个技术规格，根据多个所述技术规格生成测试计划文档；根据所述测试计划文档选择目标自动测试设备；根据所述测试计划文档和所述目标自动测试设备生成针对所述测试计划文档中各测试项的测试程序；在所述目标自动测试设备中运行所述测试程序以对所述集成电路产品进行测试。本申请可以提高集成电路产品的测试效率。 |
