一种集成电路的时延特性改进方法、装置及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202110367244.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113204938A | 公开（公告）日 | 2021-08-03 |
| 申请公布号 | CN113204938A | 申请公布日 | 2021-08-03 |
| 分类号 | G06F30/398（2020.01）I;G06F30/27（2020.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 蒋信;刘瑞盛;喻涛 | 申请（专利权）人 | 普赛微科技（杭州）有限公司 |
| 代理机构 | 广州市越秀区哲力专利商标事务所（普通合伙） | 代理人 | 孙柳 |
| 地址 | 310000浙江省杭州市临安区青山湖街道大园路1188号2幢3层3034A室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种集成电路的时延特性改进方法，包括：对流片后的集成电路进行测试并根据测试数据建立机器学习模型；根据机器学习模型对集成电路的关键时延路径进行预测分析，以及根据预测结果对集成电路的设计方案进行改进；根据机器学习模型对改进后的集成电路的关键时延路径进行预测分析，以及判断改进后的集成电路的时延特性是否满足设计规格要求，若否时，对新的集成电路的设计方案进行再次改进后再判断。本发明根据测试数据建立机器学习模型，实现对集成电路的关键时延路径进行预测，为集成电路的设计方案的改进提供了数据依据，可缩短产品开发周期以及降低开发成本。本发明还提供了一种集成电路的时延特性改进装置及存储介质。 |
