一种集成电路测试载板
基本信息
| 申请号 | CN202011559783.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112731105A | 公开（公告）日 | 2021-04-30 |
| 申请公布号 | CN112731105A | 申请公布日 | 2021-04-30 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 黄晓波 | 申请（专利权）人 | 江西龙芯微科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 337016 江西省萍乡市湘东区下埠产业园西扩区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种集成电路测试载板，包括载板；载板的底端面上形成倒金字塔状的散热结构；载板保护面板，贴覆在载板上端面对载板形成面板保护；测试调整装置，测试调整装置包括在横向调节过程中的能够填补电路板与载板之间间隙的横向调节机构和用于测试时调节探针对电路板压紧度的压紧机构；通过调节测试调整装置能够对不同规格的电路板压紧固定，实现测试时的稳定和精度。大大增加了散热面积和传热通道，提高了传热效率；在测试过程中实现良好的导热作用。 |
