一种偏光片光学性能测量系统
基本信息
申请号 | CN202021566925.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN212807567U | 公开(公告)日 | 2021-03-26 |
申请公布号 | CN212807567U | 申请公布日 | 2021-03-26 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 康政纲;欧海宏;徐飞 | 申请(专利权)人 | 深圳精创视觉科技有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 518109广东省深圳市龙华区龙华街道和平东路港之龙科技园科技孵化中心6楼E、I区 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供一种偏光片光学性能测量系统,其特征在于:沿光路方向依次设置有光源、准直镜、退偏器、起偏器、聚光镜和光电探测器,其中,光源为白色LED或者其他多光谱光源;所述准直镜用于将光源的发散光转为平行光;所述退偏器将射入其内的光过滤成完全非偏振光;所述起偏器为标准偏光片,设置于旋转平台上,可在旋转电机的带动下旋转任意角度;所述聚光镜用于汇聚光线;所述光电探测器用于收集光能量技术参数。使用该系统可一次性检测多项偏光片的光学技术参数,而且测量快速,精度高,操作简单,方便实用。 |
