一种电子元件移动测试装置
基本信息
申请号 | CN201811275041.6 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN109459632B | 公开(公告)日 | 2021-08-06 |
申请公布号 | CN109459632B | 申请公布日 | 2021-08-06 |
分类号 | G01R31/00;G01R1/04 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 陈诗庄 | 申请(专利权)人 | 南安市尚赢机械科技有限公司 |
代理机构 | 安徽盟友知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人 | 周荣 |
地址 | 223700 江苏省宿迁市泗阳县南刘集乡全民创业园创业路8号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种电子元件移动测试装置,本发明通过改进设备的部分结构,使其上的延迟回位机构受到电子元件的推动,能够对电源进行控制,使电源在延迟一段时间后进行通电,有效的防止了在通电的情况下,将电子元件插在检测槽上,导致接触不良而产生电火花,从而对设备造成损坏,同时温度检测组件能够在设备检测到损坏的电子元件的时,造成短路温度够过高而导致设备损坏之前,控制断电保护组件进行断电,保护检测槽的零件,其结构包括检测镜、焊接块、移动转盘、底座、转动衔接块、支撑柱、测试装置,检测镜位于焊接块的正上方,测试装置的底端与移动转盘的顶端相焊接,底座位于移动转盘的正下方,底座的顶端设有转动衔接块,并且二者活动连接。 |
