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一种高精度AD采样电路及测量方法

基本信息

申请号	CN201610655809.7	申请日	-
公开（公告）号	CN106452441B	公开（公告）日	2019-08-13
申请公布号	CN106452441B	申请公布日	2019-08-13
分类号	H03M1/12	分类	基本电子电路;
发明人	李露露;刘毅;王俊宇;郑立荣;安晋静	申请（专利权）人	复旦大学无锡研究院
代理机构	-	代理人	-
地址	214000 江苏省无锡市滨湖区高浪东路999号A2楼
法律状态	-

摘要

一种高精度AD采样电路及测量方法，包含Spullup开关，Scurrent开关，Sgain开关，信号输入端子对UI‑COM，Rpullup电阻，Rpoly电阻，Rcurrent电阻，Rshunt电阻，Rseries电阻和ADC采样器；所述信号输入端UI与Spullup开关、Rpullup电阻依次电连接；所述Rpullup电阻外加Vpullup电压；所述信号输入端UI与Rpoly电阻、Rseries电阻和ADC采样器依次电连接；所述Rpoly电阻与Scurrent开关、Rcurrent电阻和信号输入端COM依次电连接；所述Rseries电阻与Sgain开关、Rshunt电阻和信号输入端COM依次电连接；所述Rseries电阻与极性电容和地依次电连接；所述信号输入端COM与ADC采样器电连接。本发明通过电子开关Spullup、Sgain将电路变化为多种组态，根据电路原理列出包含各个变量关系，从而得出实际电路特征参数。