基于经纬仪的光学精度自动化测量装置及测量方法
基本信息
| 申请号 | CN202010999751.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112097731A | 公开（公告）日 | 2020-12-18 |
| 申请公布号 | CN112097731A | 申请公布日 | 2020-12-18 |
| 分类号 | G01C1/02;G01C15/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 朱云飞;许美娟;曾志敏;袁慧厉 | 申请（专利权）人 | 上海格思信息技术有限公司 |
| 代理机构 | 上海韧辰专利代理有限公司 | 代理人 | 上海格思信息技术有限公司 |
| 地址 | 201210 上海市浦东新区海科路99号4楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明属于航天技术领域，具体涉及一种测量装置。基于经纬仪的光学精度自动化测量装置，包括经纬仪，经纬仪安装于升降支架上，升降支架带动经纬仪做升降运动，经纬仪上安装有CCD电子目镜；还包括用于放置卫星的一维转台，一维转台位于升降支架侧边；升降支架、一维转台分别信号连接工作站。本发明能有效的解决了传统经纬仪测量系统测量过程复杂、效率低和精度差的难题，并且可消除传统方法中人为误差、搬站误差和互瞄误差，从而提高测量精度。通过自动化行走和测量控制，替代人为搬站、瞄准和互瞄，从而提高测量效率，为批产卫星的研制提供了必要的基础设备支撑。 |
