半导体产品外观检验载具
基本信息
| 申请号 | CN202121479745.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215448952U | 公开（公告）日 | 2022-01-07 |
| 申请公布号 | CN215448952U | 申请公布日 | 2022-01-07 |
| 分类号 | G01N21/01（2006.01）I;G01N21/95（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 潘永胜 | 申请（专利权）人 | 荣成歌尔微电子有限公司 |
| 代理机构 | 北京鸿元知识产权代理有限公司 | 代理人 | 袁文婷;张娓娓 |
| 地址 | 264300山东省威海市荣成市兴业路1号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种半导体产品外观检验载具，包括下托盘和设置在所述下托盘的上的上托盘，其中，在所述下托盘上设置有下型腔，在所述上托盘上设置有与所述下型腔位置对应的上型腔，所述上型腔和所述下型腔相扣合形成产品型腔，待检验产品收容至所述产品型腔内。利用上述实用新型能够减少产品检验对半导体产品造成的二次伤害，显著提升检验效率。 |
