硅片测试分选系统
基本信息
申请号 | CN202030076094.7 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN306204366S | 公开(公告)日 | 2020-12-01 |
申请公布号 | CN306204366S | 申请公布日 | 2020-12-01 |
分类号 | 15-99 (12) | 分类 | - |
发明人 | 何金峰;冯志城 | 申请(专利权)人 | 常州科隆威智能技术有限公司 |
代理机构 | 苏州通途佳捷专利代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 闵东 |
地址 | 213000 江苏省常州市金坛区鑫城大道239号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 1.本外观设计产品的名称:硅片测试分选系统。2.本外观设计产品的用途:用于硅片的测试及分选。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。5.本外观设计产品的底面为使用时不容易看到或看不到的部位,省略仰视图。 |
