一种光电转换测试用正反面测试机构
基本信息
申请号 | CN202020279611.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN211376592U | 公开(公告)日 | 2020-08-28 |
申请公布号 | CN211376592U | 申请公布日 | 2020-08-28 |
分类号 | H01L21/66;H01L31/18 | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 何金峰;冯志城 | 申请(专利权)人 | 常州科隆威智能技术有限公司 |
代理机构 | 苏州通途佳捷专利代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 闵东 |
地址 | 213000 江苏省常州市金坛区鑫城大道239号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了一种光电转换测试用正反面测试机构,包括测试机本体和位于该测试机本体内侧中部的测试工位,所述测试机本体中部设置有水平的测试台,所述测试工位位于所述测试台中部,其特征在于,所述测试机本体上部设置有自上而下向所述测试工位投光的上发光机构,所述测试机本体内侧下部设置有自下而上向所述测试工位投光的下发光机构。有益效果在于:通过下发光机构对电池硅片的背面进行测试,可测试电池硅片背部的短路性能,从而提高电池硅片性能的测试质量;通过对电池硅片的背部进行测试,可得到电池硅片的伸性能、耐压绝缘性能、抗老化性能和阴湿性能,电池硅片性能的测试结果更加准确。 |
