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小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座

基本信息

申请号 CN201721204659.4 申请日 -
公开（公告）号 CN207281106U 公开（公告）日 2018-04-27
申请公布号 CN207281106U 申请公布日 2018-04-27
分类号 G01R1/04;G01R31/28 分类 测量；测试;
发明人 马跃先;张文杰;吴启辉 申请（专利权）人 上海波特科技有限公司
代理机构 上海兆丰知识产权代理事务所（有限合伙） 代理人 上海波特科技有限公司;北京信息科学技术研究院
地址 200335 上海市长宁区广顺路33号A楼138室
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种小管脚间距半导体器件裸芯片老化测试插座，包括线路板；所述线路板的侧边上设有标准间距的针孔，所述针孔上焊接有测试针，所述线路板底面的中心设有悬臂弹性针，所述测试针连接所述悬臂弹性针；所述线路板的下方设有用于固定裸芯片，并使所述裸芯片的输入输出管脚引线接触所述悬臂弹性针的夹持器。其技术效果是：其能够保证裸芯片与测试插接触点的接触是柔性接触,保证接触的可靠性，适用于管脚间距小于0.40毫米的制作工艺，保证触点不因永久变形而影响重复使用。