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一种快速判定DDR芯片失效的装置

基本信息

申请号	CN202023183526.8	申请日	-
公开（公告）号	CN213751984U	公开（公告）日	2021-07-20
申请公布号	CN213751984U	申请公布日	2021-07-20
分类号	G11C29/08（2006.01）I;G11C29/56（2006.01）I	分类	信息存储;
发明人	彭军;孙晓虎;罗里刚;何红	申请（专利权）人	四川长虹网络科技有限责任公司
代理机构	成都虹桥专利事务所（普通合伙）	代理人	陈立志
地址	621000四川省绵阳市科创区创新中心2号楼529室
法律状态	-

摘要

本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种快速判定DDR芯片失效的装置，以便对取下的DDR芯片能快速有效判定是否失效。本实用新型包括用于和DDR进行读写操作的MCU、用于存储DDR设置参数的FLASH、用于DDR芯片电接入并固定DDR芯片的DDR测试插座、串行数据通信接口以及人机交互装置；所述MCU分别与所述FLASH、DDR测试插座、串行数据通信接口电连接，所述串行数据通信接口与所述人机交互装置电连接。在使用时，可将该DDR芯片放入DDR测试插座，MCU按DDR芯片的规格参数，对DDR进行读写操作，如读写操作正常，表示该芯片正确，如反馈错误，表示该芯片失效，进而起到快速判定的目的。本实用新型适用于DDR芯片失效检测。