压力传感器及其形成方法
基本信息
申请号 | CN201110433740.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN102515090A | 公开(公告)日 | 2012-06-27 |
申请公布号 | CN102515090A | 申请公布日 | 2012-06-27 |
分类号 | B81C1/00(2006.01)I;G01L9/00(2006.01)I | 分类 | 微观结构技术〔7〕; |
发明人 | 毛剑宏;唐德明 | 申请(专利权)人 | 丽水珏意芯诚电子科技合伙企业(有限合伙) |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 上海丽恒光微电子科技有限公司;丽水珏意芯诚电子科技合伙企业(有限合伙);浙江珏芯微电子有限公司 |
地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区龙东大道3000号5号楼501B室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 一种压力传感器及其形成方法,形成压力传感器的方法包括:提供半导体基底,在半导体基底内具有控制电路和互连结构,在半导体基底上形成有底部电极,互连结构将底部电极和控制电路电连接;形成牺牲层,覆盖底部电极;形成顶部电极,覆盖牺牲层的顶面、侧面以及部分半导体基底,顶部电极具有第一开口,第一开口暴露出牺牲层;通过第一开口去除牺牲层,在顶部电极和底部电极之间形成空腔;形成介质层,覆盖半导体基底和顶部电极,介质层具有呈环状的第二开口,第二开口隔离出与底部电极相对的部分顶部电极,该隔离出的部分顶部电极作为压力传感区。本技术方案形成压力传感器的方法与CMOS工艺兼容,形成方法简单。 |
