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一种高电流测试探针及探针组件

基本信息

申请号 CN201921399840.4 申请日 -
公开（公告）号 CN210604724U 公开（公告）日 2020-05-22
申请公布号 CN210604724U 申请公布日 2020-05-22
分类号 G01R1/067;G01R31/26 分类 测量；测试;
发明人 刘丽贞 申请（专利权）人 深圳市容微精密电子有限公司
代理机构 深圳鸿业专利代理有限公司 代理人 深圳市容微精密电子有限公司
地址 518000 广东省深圳市龙华区观澜樟坑径金倡达科技园F栋2楼
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及芯片检测技术领域，更具体地说，它涉及一种高电流测试探针，包括针体和导电套，导电套设有供针体容纳的内腔，内腔的内壁抵接针体侧壁，内腔相对的两端设有供针体两端部分别穿出的通孔；本实用新型采用在探针外套设导电套，导电套的内壁与高电流测试探针抵接配合，可以增加电流经过高电流测试探针的导通的横截面积，使高电流可以顺畅通过，从而提高测试的稳定性。本实用新型还涉及一种探针组件，包括上述高电流测试探针，还包括探针座，探针座上设置有多个高电流测试探针。