下压测试盖
基本信息
| 申请号 | CN201920939491.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN210270074U | 公开（公告）日 | 2020-04-07 |
| 申请公布号 | CN210270074U | 申请公布日 | 2020-04-07 |
| 分类号 | G01R31/28;G01R1/04 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘泽鑫 | 申请（专利权）人 | 深圳市容微精密电子有限公司 |
| 代理机构 | 深圳鸿业专利代理有限公司 | 代理人 | 深圳市容微精密电子有限公司 |
| 地址 | 518110 广东省深圳市龙华区观澜樟坑径金倡达科技园F栋2楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供了一种下压测试盖，包括上盖、底座、卡钩和下压件，上盖的上端与底座的上端铰接，卡钩与底座的下端铰接，下压件的下端与底座的下端铰接，下压时，卡钩的上端勾住上盖的下端，并将上盖固定在底座上，下压件压在上盖上。下压时，通过下压件施力，使得卡钩和下压件共同作用在上盖上，增大了测试盖的受力，从而不会导致IC芯片与测试座接触不良，不会影响IC芯片的测试，同时，下压件在工作时采用了杠杆原理，具有施力方便和下压力量大等优点。 |
