一种可用于高频测试的光学芯片检测座
基本信息
| 申请号 | CN202110224616.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113009320A | 公开（公告）日 | 2021-06-22 |
| 申请公布号 | CN113009320A | 申请公布日 | 2021-06-22 |
| 分类号 | G01R31/28;G01R1/04 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王文兵;刘才君;刘泽鑫 | 申请（专利权）人 | 深圳市容微精密电子有限公司 |
| 代理机构 | 重庆壹手知专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 刘军 |
| 地址 | 518100 广东省深圳市龙华区观湖街道樟坑径社区上围工业区2000069栋金倡达F栋101 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种可用于高频测试的光学芯片检测座，具体涉及芯片检测领域，包括箱体，所述箱体设有滑槽一，所述滑槽一上部滑动连接有多个转动滑块，多个所述转动滑块上部固定连接有转盘，所述转盘内部设有多个固定槽，多个所述固定槽为倒置锥形，且多个所述固定槽内部均固定连接有限位块，所述箱体左侧固定连接有连接柱，所述连接柱右侧设有滑槽二，所述滑槽二内部滑动有多个T形滑块，多个所述T形滑块远离连接柱一侧固定连接有上检测座，所述上检测座下部固定连接有安装板，所述安装板内部固定连接有多个探测针。本发明在进行检测时机械化程度更高，进行流水检测，检测方式更加方便，检测效率更高。 |
