一种适用于大电流测试的探针测试底座
基本信息
| 申请号 | CN202010554812.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111537869A | 公开（公告）日 | 2020-08-14 |
| 申请公布号 | CN111537869A | 申请公布日 | 2020-08-14 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 刘泽鑫 | 申请（专利权）人 | 深圳市容微精密电子有限公司 |
| 代理机构 | 深圳鸿业专利代理有限公司 | 代理人 | 深圳市容微精密电子有限公司 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙华区观湖街道樟坑径社区上围工业区2000069栋金倡达F栋101 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种适用于大电流测试的探针测试底座，涉及高铁及汽车电子芯片测试领域，该一种适用于大电流测试的探针测试底座，包括基板，基板的上端开设有放置槽，基板的表面开设有固定孔，基板的内壁设置有连接装置，连接装置包括包裹座，包裹座位于基板的内壁，包裹座的表面与基板的内壁固定连接，包裹座的上端插设并固定连接有导筒，导筒的下端固定连接有连接杆，导筒的内壁固定连接有压缩弹簧，压缩弹簧的上端固定连接有导杆。在使用时，将基板与电路板电性连接，将被检测芯片插入放置槽中，检测芯片与导杆相抵，压缩弹簧受力变形产生弹力并扭曲，导杆受力插入导筒中，导杆在压缩弹簧的扭曲下产生偏移并与导筒的内壁相抵。 |
