石油钻井中X射线荧光泥质含量的分析方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

石油钻井中X射线荧光泥质含量的分析方法

基本信息

申请号	CN200810140723.6	申请日	-
公开（公告）号	CN101354362B	公开（公告）日	2011-01-12
申请公布号	CN101354362B	申请公布日	2011-01-12
分类号	G01N23/223(2006.01)I;E21B49/08(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	陈英毅;何国贤;周天顺;王飞龙	申请（专利权）人	中国石化集团华北石油局有限公司
代理机构	郑州大通专利商标代理有限公司	代理人	陈大通
地址	450042 河南省郑州市中原区须水镇须贾路4号
法律状态	-

摘要

本发明涉及一种利用X射线荧光分析石油钻井中泥质含量的方法。该方法是采用能量色散型X射线荧光分析仪在石油钻井现场随钻井深度对岩心、岩屑中的化学元素进行连续分析，得出随深度变化的X射线荧光分析数据，采用线性回归方法对所述X射线荧光分析数据进行相关性分析和统计，计算出不同元素之间的相关系数，然后计算某元素与其他11种元素的平均相关系数，从中选出平均相关系数最大的元素；进行泥质含量的计算；绘制出随钻井深度变化的泥质含量曲线。本发明的方法可用于钻井现场，对已钻地层的岩性进行及时、准确地泥质含量分析，并根据泥质含量分析数据进行岩性和储集性能的定性和定量评价，形成基于X射线荧光分析的随钻地质解释评价方法，能正确有效地指导石油天然气勘探开发钻井生产。