石油钻井中X射线荧光陆源碎屑岩孔隙度的分析方法
基本信息
| 申请号 | CN200810140931.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN101344001B | 公开（公告）日 | 2012-05-23 |
| 申请公布号 | CN101344001B | 申请公布日 | 2012-05-23 |
| 分类号 | E21B49/00(2006.01)I | 分类 | 土层或岩石的钻进；采矿; |
| 发明人 | 陈英毅;何国贤;周天顺;王飞龙;杨勇 | 申请（专利权）人 | 中国石化集团华北石油局有限公司 |
| 代理机构 | 郑州大通专利商标代理有限公司 | 代理人 | 中国石化集团华北石油局;中石化石油工程技术服务有限公司 |
| 地址 | 450042 河南省郑州市中原区须水镇须贾路4号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及利用X射线荧光分析石油钻井中的陆源碎屑岩孔隙度的方法。该方法包括采用能量色散型X射线荧光分析仪在石油钻井现场随钻井深度对岩心、岩屑中的化学元素进行连续分析，得出随深度变化的X射线荧光分析数据，选择与岩石的储集性有明显正、负相关关系的硅铁元素，利用硅铁元素的数据进行0-1归一化数据计算，然后计算孔隙度，最后绘制出孔隙度曲线，根据孔隙度曲线和孔隙度值评价储集层性质。本发明的方法能实时进行X射线荧光分析和陆源碎屑岩孔隙度分析，实时利用孔隙度数据进行岩石储集性能的定量评价，形成基于X射线荧光分析的随钻地质解释评价方法，能正确有效地指导石油天然气勘探开发实践。 |
