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一种光路同轴检测装置

基本信息

申请号 CN202020973563.X 申请日 -
公开（公告）号 CN212646042U 公开（公告）日 2021-03-02
申请公布号 CN212646042U 申请公布日 2021-03-02
分类号 G01M11/02(2006.01)I;G01B5/252(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 李海昌;杨亿;杨佳珺;肖俊君;陈根余;陈焱;高云峰 申请（专利权）人 深圳市大族光聚科技有限公司
代理机构 深圳市恒申知识产权事务所（普通合伙） 代理人 任哲夫
地址 518000 广东省深圳市南山区深南大道9988号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型提供的一种光路同轴检测装置，该检测装置应用于激光切割头上，包括：十字光叉、刻度板座、校光检视块、第一刻度板及第二刻度板，十字光叉内套接于激光切割头一端，校光检视块内套接于激光切割头的与十字光叉相对的另一端，刻度板座固定于十字光叉与校光检视块之间的激光切割头部位上，第一刻度板安装于刻度板座上，第二刻度板安装于校光检视块上；其中，十字光叉用于输入红外光，红外光依次穿透十字光叉、第一刻度板及第二刻度板，第一刻度板及第二刻度板用于标记红外光的光路位置。本方案该检测装置的结构部件较为精巧、简洁，通过标记的光路位置确定光路的偏移量，检测激光切割头的光路同轴精度，操作较为简单，具有较高的实用性。