一种测量小角度晶界位向差的透射电镜方法
基本信息
| 申请号 | CN202210238815.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114609166A | 公开（公告）日 | 2022-06-10 |
| 申请公布号 | CN114609166A | 申请公布日 | 2022-06-10 |
| 分类号 | G01N23/20058（2018.01）I;G01N23/20016（2018.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈文龙;肖晓玲;周明俊;李扬;石常亮 | 申请（专利权）人 | 广东省科学院工业分析检测中心 |
| 代理机构 | 佛山信智汇知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 510651广东省广州市天河区长兴路363号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种测量小角度晶界位向差的透射电镜方法，包括步骤：制备透射电镜试样；采用透射电镜找到拟测量的第一晶粒和第二晶粒；第一次调节试样，第二次调节试样以及计算结果。本发明通过采用选区电子衍射，清晰的图像和衍射花样一一对应，具有更清晰的辨析度，结合球面角与双倾样品杆准确描述，简单易懂的数学计算快速精确给出相邻晶粒的位向差，在材料进行微观组织观察检测的同时快速测定取向差，具有操作简单、计算方便，直观易懂的优点。 |
