校准装置
基本信息
| 申请号 | CN202120533462.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215297645U | 公开（公告）日 | 2021-12-24 |
| 申请公布号 | CN215297645U | 申请公布日 | 2021-12-24 |
| 分类号 | G01R35/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 吴瑞仁;砂永登志男;陈卓凡 | 申请（专利权）人 | 北京时代全芯存储技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人 | 徐金国 |
| 地址 | 北京市海淀区丰豪东路9号院2号楼8层4单元802 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本案揭露一种校准装置，是用以校准记忆体。校准装置包含输入端、第一上拉电路及第一比较器。输入端用以耦接外部电阻。第一上拉电路耦接于输入端，并用以接收电源供应电压。第一上拉电路包含多个第一上拉单元，这些第一上拉单元彼此并联。第一比较器耦接于输入端。第一比较器用以接收相应于电源供应电压的比例电压，并输出第一控制信号至该些第一上拉单元，使得该些第一上拉单元中每一者的电阻值相等于外部电阻的电阻值。本案实施例提供一种校准装置，通过校准装置对记忆体进行校准，以使记忆体与外部装置阻抗匹配，借以改善记忆体输出的高频信号产生反射的状况。 |
