一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法
基本信息
| 申请号 | CN202111466523.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114154858A | 公开（公告）日 | 2022-03-08 |
| 申请公布号 | CN114154858A | 申请公布日 | 2022-03-08 |
| 分类号 | G06Q10/06（2012.01）I;G06Q10/10（2012.01）I;G06Q50/04（2012.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 刘松坡;王哲 | 申请（专利权）人 | 武汉利之达科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 湖北高韬律师事务所 | 代理人 | 鄢志波 |
| 地址 | 430000湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号未来科技城龙山创新园一期C1栋703室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法，步骤1：采集客户质量需求，包括陶瓷基板上的总触点数、可拒接受质量水平和消费者风险；步骤2：厂家设定检测质量要求，包括可接受质量水平和生产者风险；步骤3：根据客户质量需求和厂家检测质量要求制定抽样方案，确定抽样方案中所需样本触点数和不导电触点数阈值；步骤4：使用飞针机进行触点通断性测试，得到不导电触点数。可根据客户需求快速制定抽样检测方案，该检测方案在保持交付给客户的成品维持符合要求的次品率同时，所检验的触点数量大大减少，可有效节约检测时间，提高生产效率，具有很高的经济效益。 |
