一种单光电编码器大变形测量装置
基本信息
申请号 | CN201922228931.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN211347673U | 公开(公告)日 | 2020-08-25 |
申请公布号 | CN211347673U | 申请公布日 | 2020-08-25 |
分类号 | G01N3/02(2006.01)I | 分类 | - |
发明人 | 樊嗣坚;麦英伟;罗万良;梁嘉城 | 申请(专利权)人 | 广州市广材试验仪器有限公司 |
代理机构 | 广州鼎贤知识产权代理有限公司 | 代理人 | 广州市广材试验仪器有限公司 |
地址 | 511400广东省广州市南沙区榄核镇上坭村禺山科技工业园8号之五、六 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开一种单光电编码器大变形测量装置,包括支架、安装在支架上的光电编码器装置、位于光电编码器装置两侧的两个传动装置、位于光电编码器装置下方的平衡装置、位于传动装置下方的两个第一夹头、安装在支架一侧的驱动装置以及线绳,线绳与第一夹头、传动装置、平衡装置和光电编码器装置依次连接,两个第一夹头分别夹取试样的两侧,驱动装置可驱动试样向上拉伸变形以带动光电编码器装置转动,光电编码器装置可读取试样的拉伸长度。本实用新型通过采用单光电编码器代替双光电编码器,将两标距线的位移量转化为单光电编码器的正负转角,直接得出试样标距的增量,节省了设备成本,提高了测量精度。 |
