一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构
基本信息
| 申请号 | CN202022220890.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213579152U | 公开（公告）日 | 2021-06-29 |
| 申请公布号 | CN213579152U | 申请公布日 | 2021-06-29 |
| 分类号 | G01B11/00（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘贵枝;陈桂东;胡聪 | 申请（专利权）人 | 天津必利优科技发展有限公司 |
| 代理机构 | 天津企兴智财知识产权代理有限公司 | 代理人 | 苏冲 |
| 地址 | 300380天津市滨海新区高新区塘沽海洋科技园新北路4668号创新创业园18-A号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供了一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构，包括晶体定位座、探针对位校准座、测试头和分度盘，所述晶体定位座、探针对位校准座底部均固定连接至分度盘边缘处，分度盘中部转动连接测试组件，测试组件一侧固定连接测试头，测试头位于晶体定位座、探针对位校准座的顶部，分度盘底部设有固定座，固定座一侧固定连接一个外部相机。本实用新型所述的一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构，结构简单，设计合理，其晶体定位座、探针对位校准座、测试头和分度盘可以通过相机拍摄和系统校准精准对位代替肉眼观察定位功能，不仅提高了测试定位精度，而且成本低廉，经济实用，易于操作，适于推广。 |
