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半导体元件直流耐压自动测试器

基本信息

申请号 CN90105077.6 申请日 -
公开（公告）号 CN1022067C 公开（公告）日 1993-09-08
申请公布号 CN1022067C 申请公布日 1993-09-08
分类号 G01R31/26 分类 测量；测试;
发明人 范传明 申请（专利权）人 大连发电总厂
代理机构 沈阳市专利事务所 代理人 刘兆年
地址 116021辽宁省大连市沙河口区西安路40号
法律状态 -

摘要

摘要 半导体元件直流耐压自动测试器属于一种用于测定半导体元件直流耐压的新型测试装置。本发明特点是，自动调控测试电压，测量电流多档可选；测试精度高，造价低；整机工作安全可靠，小巧轻便，弥补了一般公知的半导体元器件测试设备的不足。本发明包括自动恒流测压系统和自动步进调压系统两部分。