首页/ 上海矽感信息科技（集团）有限公司/ 专利详情

检测设备进样系统密封方法及进样系统、装置和检测设备

基本信息

申请号 CN201410226231.4 申请日 -
公开（公告）号 CN104034910A 公开（公告）日 2014-09-10
申请公布号 CN104034910A 申请公布日 2014-09-10
分类号 G01N35/00(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 徐珩;颜毅坚;马军;刘立秋;徐翔 申请（专利权）人 上海矽感信息科技（集团）有限公司
代理机构 深圳市中原力和专利商标事务所（普通合伙） 代理人 王英鸿;曹抚全
地址 430000 湖北省武汉市东西湖区台商投资区吴南路4号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种检测设备进样系统密封方法及进样系统、装置和检测设备，在进样装置上设置有密封装置，使用时，密封装置与进样口密封连接。本发明所述密封方法及进样系统、装置和检测设备，将进样口做成开放式敞开的进样口，即密封装置不设置在进样口处，而设置在进样装置上以达到与检测设备进样口的密封，克服了现有的进样装置进样时由于需要刺穿隔垫而带来的污染，进而避免了数据的干扰，有效降低了物质检出限，提高了用户体验。同时本发明所述的检测设备进样系统的密封方法能够兼容多种进样方式，用户不需要购置多种检测设备，降低了检测成本。