一种便于使用的IC封装芯片检测装置

基本信息

申请号 CN202021372990.9 申请日 -
公开(公告)号 CN213122191U 公开(公告)日 2021-05-04
申请公布号 CN213122191U 申请公布日 2021-05-04
分类号 G01R31/28;G01R1/04 分类 测量;测试;
发明人 李东哲 申请(专利权)人 天津宇鑫晟科技发展有限公司
代理机构 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 代理人 刘玉珠
地址 300380 天津市西青区经济技术开发区赛达模具园F-1座A区
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种便于使用的IC封装芯片检测装置,涉及到IC封装芯片领域,包括装置本体,所述装置本体的两侧均活动安装有支撑板,支撑板的两侧均固定安装有固定板,两个固定板均活动安装在装置本体上,所述支撑板的底侧开设有收纳槽,收纳槽内设有两个转动块。本实用新型,通过装置本体、支撑板、收纳槽、转动块、滑动槽、滑动轴、定位挡板、套接杆、调整螺杆、安装板、吸盘的设置,使得装置本体在进行检测工作时,通过四个吸盘固定在所需固定的位置上,从而使得装置本体能够稳固的放置,同时通过转动调整螺杆可以将装置本体进行调平,进而保证了装置本体的水平放置,从而保证了检测工作的正常进行,满足了人们的需求。