存储设备的可靠性测试方法及其存储设备
基本信息
| 申请号 | CN201910751710.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112395127A | 公开（公告）日 | 2021-02-23 |
| 申请公布号 | CN112395127A | 申请公布日 | 2021-02-23 |
| 分类号 | G06F11/10(2006.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 杨帆;谢海龙 | 申请（专利权）人 | 上海忆芯实业有限公司 |
| 代理机构 | 北京卓特专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 托娅 |
| 地址 | 200120上海市浦东新区南汇新城镇环湖西二路888号C楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 公开了存储设备的可靠性测试方法及其存储设备。所公开的存储设备的可靠性测试方法，包括：使用第一读命令从存储设备的物理块读取第一数据；响应于第一数据的错误比特数大于第一阈值，使用第二读命令从存储设备的所述物理块读取第二数据；若第二数据的错误比特数大于第二阈值，将所述物理块识别为坏块；其中所述第二读命令是具有指定参数的读重做命令。 |
