一种提高测试效率的ATE测试模式
基本信息
| 申请号 | CN201811607629.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109884498A | 公开（公告）日 | 2021-07-13 |
| 申请公布号 | CN109884498A | 申请公布日 | 2021-07-13 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 薛来熙;吴勇佳;余琨;季海英;蔡漪文;王静 | 申请（专利权）人 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海海贝律师事务所 | 代理人 | 范海燕 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区郭守敬路351号2号楼1楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种提高测试效率的ATE测试模式，本技术方案由2部分构成：数据处理用的电脑及数据传输使用的网络路由器；将ATE测试电脑及数据处理电脑，通过网线接到数据传输路由器上，构成局域网，并将数据处理电脑的某个硬盘，通过局域网共享给ATE测试电脑使用，该硬盘为备份硬盘；本发明提供的提高测试效率的ATE测试模式，该模式是将采集数据、数据分析和处理及返回测试Bin进行分开，ATE将所需数据采集完，就可空出ATE，用于其他的集成电路测试，这样可以提高ATE的测试效益；数据采集完，存档在另一台电脑中，也可避免因大数据处理中，ATE电脑死机时，造成数据丢失。 |
