集成电路光学芯片光圈测试方法
基本信息
| 申请号 | CN201910251137.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110031188B | 公开（公告）日 | 2021-08-27 |
| 申请公布号 | CN110031188B | 申请公布日 | 2021-08-27 |
| 分类号 | G01M11/02;G01R31/303;G01N21/95 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王华;张志勇;邓维维;余琨;季海英;罗斌 | 申请（专利权）人 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海海贝律师事务所 | 代理人 | 范海燕 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区郭守敬路351号2号楼1楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种集成电路光学芯片光圈测试方法，对抓取到的图像阵列按照圆的概念进行处理，处理的方法即是通过半径来划分，得到一个一个的圆形图案，按照坐标进行重构为另外的一个二维数组，然后对得到的数组进行相应的运算，最终得到需要的值；本发明提供的集成电路光学芯片光圈测试方法，在不增加任何的额外硬件成本，使用原有的测试条件下，本发明解决目前行业内无成熟覆盖屏幕指纹芯片光圈故障的测试方法和算法的技术问题。 |
