高速串行接口芯片的非线性度测试方法及其装置
基本信息
| 申请号 | CN202010808008.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114079459A | 公开（公告）日 | 2022-02-22 |
| 申请公布号 | CN114079459A | 申请公布日 | 2022-02-22 |
| 分类号 | H03L7/087（2006.01）I;H03L7/097（2006.01）I | 分类 | 基本电子电路; |
| 发明人 | 王浩南;葛云龙;钟英权 | 申请（专利权）人 | 上海钫铖微电子有限公司 |
| 代理机构 | 上海一平知识产权代理有限公司 | 代理人 | 吴珊;成春荣 |
| 地址 | 201203上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区盛夏路169号、张东路1658号1幢908室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请公开了一种高速串行接口芯片的非线性度测试方法及其装置，几乎不需要任何测试设备，测试成本极低。该方法包括：提供第一本振时钟至数据源，提供第二本振时钟至待测芯片，所述第一本振时钟与所述第二本振时钟的频率不同；所述数据源输出数据信号至所述待测芯片，所述待测芯片包括时钟与数据恢复电路；所述时钟与数据恢复电路锁定后，对所述待测芯片生成的控制数码进行采样，计算所述控制数码的统计值并根据所述统计值计算差分非线性度和积分非线性度。 |
