一种芯片光刻机显示测试机

基本信息

申请号 CN202121272387.8 申请日 -
公开(公告)号 CN215894232U 公开(公告)日 2022-02-22
申请公布号 CN215894232U 申请公布日 2022-02-22
分类号 G01N3/12(2006.01)I;G01N3/02(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 李国基;武庆雷;刘道 申请(专利权)人 浙江仕能机电科技有限公司
代理机构 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 代理人 廖银洪
地址 314031浙江省嘉兴市秀洲区高照街道加创路321号上海交大(嘉兴)科技园5号楼1-2层
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型属于芯片光刻机设备技术领域,尤其为一种芯片光刻机显示测试机,包括底板,所述底板的上端面左右两侧均固定连接有支板,两个所述支板的上端面固定连接有顶板,启动电机可带动显示器进行旋转,便于进行调整显示器角度,方便对不同位置进行撞击测试,由于重力平板以及撞击块均向下自然坠落,从而使撞击块对底部的显示器进行撞击,将底部的平板匀速向上拉动并且通过固定钩和电子锁再次固定,便于进行下次撞击测试,操作简单且自动化程度高,省时省力,提高测试效,解决了现有的芯片光刻机显示测试机结构复杂且功能单一,对显示器的角度调节不方便,费事费力,且撞击测试操作繁琐,自动化程度低,测试效率低的问题。