一种芯片测试托盘
基本信息
| 申请号 | CN202122838953.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216670184U | 公开（公告）日 | 2022-06-03 |
| 申请公布号 | CN216670184U | 申请公布日 | 2022-06-03 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 韩成 | 申请（专利权）人 | 东莞记忆存储科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市精英专利事务所 | 代理人 | - |
| 地址 | 523000广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区工业东路32号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种芯片测试托盘，包括托盘主体、老化板和转接板组件，老化板设有插座。转接板组件包括板体、存储器、主控I C，以及用于安装芯片的安装座；板体插接于插座上，存储器、主控I C和安装座均固定于板体上。本实用新型通过设计的带有主控I C的板体，测试时只需要将待测芯片安装在板体的安装座上即可，测试方便，可以兼容测试多种芯片的，兼容性高。另外，在板体上还设有散热件，且其安装完成后处于存储器和主控I C的上方，因此，在工作时，散热效果好，避免了测试时温度过高，影响测试的稳定性，大大降低了故障率。 |
