闪存物理层的测试方法及闪存设备
基本信息
| 申请号 | CN202111672874.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114333960A | 公开（公告）日 | 2022-04-12 |
| 申请公布号 | CN114333960A | 申请公布日 | 2022-04-12 |
| 分类号 | G11C29/12（2006.01）I;G11C29/14（2006.01）I;G11C29/44（2006.01）I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 陆震熙;黄运新 | 申请（专利权）人 | 深圳大普微电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市六加知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈金赏 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙岗区腾飞路9号创投大厦3501室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请实施例涉及存储设备应用领域，公开了一种闪存物理层的测试方法及闪存设备，该方法包括：将闪存控制器的闪存物理层与模拟颗粒的闪存物理层对接；由闪存控制器的闪存物理层向模拟颗粒的闪存物理层执行读操作，以使闪存控制器的闪存物理层获取模拟颗粒的闪存物理层发送的数据；若闪存控制器的闪存物理层获取的数据与模拟颗粒的闪存物理层发送的数据一致，则确定闪存控制器的闪存物理层的功能正常。通过设置一个模拟颗粒，将模拟颗粒的闪存物理层与闪存控制器的闪存物理层对接，若闪存控制器的闪存物理层获取的数据与模拟颗粒的闪存物理层发送的数据一致，则确定闪存控制器的闪存物理层的功能正常，本申请能够提高对闪存物理层的测试能力。 |
