一种基于LabVIEW的光器件不同工站和工序的参数管理方法
基本信息
申请号 | CN202110517115.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113420008A | 公开(公告)日 | 2021-09-21 |
申请公布号 | CN113420008A | 申请公布日 | 2021-09-21 |
分类号 | G06F16/21(2019.01)I;G06F8/20(2018.01)I;G06F8/38(2018.01)I;G06F11/36(2006.01)I;G06F16/22(2019.01)I;G06F16/24(2019.01)I;G06Q10/06(2012.01)I | 分类 | 计算;推算;计数; |
发明人 | 尹洋;李林科;吴天书;杨现文;张健 | 申请(专利权)人 | 武汉联特科技股份有限公司 |
代理机构 | 北京汇泽知识产权代理有限公司 | 代理人 | 吴静 |
地址 | 430000湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳大道52号E地块12栋 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 一种基于LabVIEW的光器件不同工站和工序的参数管理方法,包括:对光器件测试的数据库结构进行设计;根据预设需求,通过数据管理界面,对测试系统参数进行添加;对自动化人机交互界面进行设计;通过自动化人机交互界面完成系统测试,实现数据存储;通过数据管理界面完成数据查询和追溯。本发明将光器件不同工站、工序测试的参数进行分开,将光器件测试的步骤进行区分,能记录修改记录以及不同工站、工序数据条件的追溯。 |
