可读存储介质、支架缺陷位置获取方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN202010444102.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113724183A | 公开（公告）日 | 2021-11-30 |
| 申请公布号 | CN113724183A | 申请公布日 | 2021-11-30 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06T7/77（2017.01）I;G06T7/90（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T5/30（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 黄弯弯;吕文尔 | 申请（专利权）人 | 上海微创卜算子医疗科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海思捷知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王宏婧 |
| 地址 | 201203上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区张东路1601号1幢1702室（实际楼层15层） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种可读存储介质、支架缺陷位置获取方法及装置，包括：对待测图像进行二值化处理，以获取二值化图像；对所述二值化图像进行形态学操作，并以所述支架的轴向为横向坐标轴，统计进行形态学操作后的所述二值化图像的每一列的白色像素点个数；基于统计的结果建立坐标映射表，所述坐标映射表反映所述支架的横向像素坐标和所述支架的位置标签之间的映射关系；根据所述支架的缺陷所对应的横向像素坐标及所述坐标映射表，获取所述缺陷的位置标签并输出，以用于识别所述缺陷在所述支架中的实际位置。如此，在人工对支架的缺陷进行核查时，即可根据输出的位置标签，快速找到缺陷的位置。 |
