一种薄膜材料塞贝克系数测量仪
基本信息
| 申请号 | CN201310131502.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN104111267A | 公开（公告）日 | 2014-10-22 |
| 申请公布号 | CN104111267A | 申请公布日 | 2014-10-22 |
| 分类号 | G01N25/20(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王轩;王涛;刁训刚 | 申请（专利权）人 | 北京市太阳能研究所有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 100012 北京市朝阳区北苑路大羊坊10号桑普大厦 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及热电性能测试领域的一种测量仪，特别涉及一种薄膜材料塞贝克系数测量仪。该测量仪包括样品台、温度控制系统和数据采集系统。样品台包括样品夹和底座，样品夹为两部分，用来固定测试样品，分别称为热端和冷端；温度控制系统包括传感器、温控器、继电器、加热器和冷却器，传感器、加热器和冷却器均设置在样品夹上，数据采集系统包括金电极和数据采集卡。本发明提供的塞贝克系数测量仪可以测量厚度大于20nm薄膜的塞贝克系数，同时也能够测量厚度小于10mm块体的塞贝克系数，并且可以以每秒10000次的速度进行连续动态测量，大大增加了数据可靠性和测试效率。 |
