一种用于CMOS芯片检测的多方位视觉检测机构
基本信息
| 申请号 | CN202011619297.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112730461A | 公开（公告）日 | 2021-04-30 |
| 申请公布号 | CN112730461A | 申请公布日 | 2021-04-30 |
| 分类号 | G01N21/956;G01N21/01;G01B11/27;G01B11/06;G01B5/24;G01B5/06 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张华;蒲继雄;丁攀峰;冯文灿 | 申请（专利权）人 | 东莞广达智能科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京卓恒知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 李迪 |
| 地址 | 523000 广东省东莞市松山湖园区科技二路10号1栋2单元301室04 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及检测设备技术领域，尤其是指一种多方位视觉检测设备，包括高度检测仪、偏心检测仪、机台，所述高度检测仪安装于所述机台上，所述偏心检测仪安装于所述高度检测仪下方，所述高度检测仪能够检测工件的高度，所述偏心检测仪能够检测工件是否偏心；所述机台设置有与所述高度检测仪配合使用的检测台，所述检测台上端设置有可转动的夹具，所述高度检测仪安装于所述检测台旁；所述检测台设置有与所述高度检测仪配合使用的反射镜，所述机台设置有承载板，所述承载板下方设置有环形光源，所述环形光源上端设置有折射器，通过折射器和反射镜的存在使本发明，在对工件进行照射时，能够减少曝光几率，使高度检测仪能够正常对焦进行检测。 |
