伺服系统的性能指标检测方法及计算机存储介质
基本信息
| 申请号 | CN201711460125.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109976300B | 公开（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申请公布号 | CN109976300B | 申请公布日 | 2022-03-01 |
| 分类号 | G05B23/02 | 分类 | 控制；调节; |
| 发明人 | 卢红星 | 申请（专利权）人 | 上海铼钠克数控科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海弼兴律师事务所 | 代理人 | 胡美强;李梦男 |
| 地址 | 200241 上海市闵行区东川路555号丙楼5124室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种伺服系统的性能指标检测方法及计算机存储介质。所述伺服系统包括至少一伺服电机，性能指标检测方法包括：在接收到检测指令时，对每个伺服电机依次进行以下测试中的至少两种：阶跃响应测试、抛物线响应测试、闭环频率响应测试和圆度响应测试。本发明实现了自动对伺服系统中的每个伺服电机进行性能指标测试，减轻了测试人员的负担，大大提高了测试效率。 |
