一种防止表面金属层脱焊的半导体装置及其制造方法

基本信息

申请号 CN202011415145.X 申请日 -
公开(公告)号 CN112542435A 公开(公告)日 2021-03-23
申请公布号 CN112542435A 申请公布日 2021-03-23
分类号 H01L21/48(2006.01)I;H01L23/482(2006.01)I;H01L23/485(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 王海军;阳平 申请(专利权)人 上海擎茂微电子科技有限公司
代理机构 温州知远专利代理事务所(特殊普通合伙) 代理人 汤时达
地址 201100上海市闵行区东川路555号乙楼一层1001室(集中登记地)
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种防止表面金属层脱焊的半导体装置,包括表面具有绝缘介质层的半导体器件,半导体器件的表面设有接触孔,接触孔内侧面上设置有一层由金属钛材料制成的接触层,接触层的表面设有一层由氮化钛材料制成的阻挡层,接触孔内侧面还设置有一层由金属钨材料制成的侧壁保护层,接触孔内及半导体器件的表面还设置有金属互联层,金属互联层的上方设有第一钝化层和第二钝化层。本发明的防止表面金属层脱焊的半导体装置,其键合后表面金属层不易脱落、剥离,可靠性高。此外本发明还涉及该半导体装置的制造方法。