X射线衍射-荧光双谱仪
基本信息
| 申请号 | CN200920105107.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN201335815Y | 公开（公告）日 | 2009-10-28 |
| 申请公布号 | CN201335815Y | 申请公布日 | 2009-10-28 |
| 分类号 | G01N23/207(2006.01)I;G01N23/223(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 江向峰;董连武 | 申请（专利权）人 | 北京布莱格科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人 | 布莱格科技（北京）有限公司;北京布莱格科技有限公司 |
| 地址 | 100871北京市海淀区中关村北大街116号北京大学科技园孵化器2号楼2112室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种X射线衍射-荧光双谱仪，包括X射线源，还包括：硅检测器、单道脉冲幅度分析器及多道脉冲幅度分析器，所述X射线源产生X射线照射待测样品；所述硅检测器对所述待测样品反射的X射线进行检测并将输出分别送入所述单道脉冲幅度分析器及多道脉冲幅度分析器；所述单道脉冲幅度分析器仅选通衍射波长，用于获取待测样品的X射线衍射谱；所述多道脉冲幅度分析器用于获取待测样品的X射线荧光能谱。本实用新型的技术方案在进行衍射图扫描的同时，获取样品的荧光散射能量谱，使仪器在工作时能够充分获取样品的信息，同时得到样品的X射线衍射谱和样品的X射线能谱。 |
