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一种平面内多晶织构的测量方法

基本信息

申请号 CN201710170444.3 申请日 -
公开（公告）号 CN106908461A 公开（公告）日 2017-06-30
申请公布号 CN106908461A 申请公布日 2017-06-30
分类号 G01N23/207 分类 测量；测试;
发明人 熊旭明;江向峰;张永水;王延凯;桑洪波;贺昱旻 申请（专利权）人 北京布莱格科技有限公司
代理机构 北京工信联合知识产权代理有限公司 代理人 朱振德;张荣
地址 215000 江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物园C18栋
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种平面内多晶织构的测量方法。包括：采用X射线管发出X射线，所述X射线为线焦斑；使用Sollar狭缝限制X射线在线焦斑长度方向的发散，并使用发散狭缝控制所述X射线在垂直于线焦斑方向的发散；使呈线焦斑的X射线照射到待测产品上，并使用X射线探测器接收待测产品衍射的X射线；控制所述X射线管与所述X射线探测器对待测样品进行Phi扫描，并由X射线探测器记录接收到的待测产品衍射的X射线的强度，根据待测产品衍射的X射线的强度的变化得出待测产品的平面内多晶织构。本发明的测量速度相比于现有技术有了很大的提高，测量值的波动范围也大幅度减少。并保持了测量的精度。同时，本发明具有低成本优势。