导体直流电阻测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202121506453.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215180502U | 公开（公告）日 | 2021-12-14 |
| 申请公布号 | CN215180502U | 申请公布日 | 2021-12-14 |
| 分类号 | G01R27/08（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 肖敬成;顾霄;胡冬伟;王洪昌;李星辰;朱涛;闫笑寒;申永涛;贺金红;张荣;王子强;李闯;范玉军 | 申请（专利权）人 | 上海国缆检测股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海光华专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 李双娇 |
| 地址 | 200444上海市宝山区山连路558号101室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及导体电阻测量技术领域，尤其涉及一种导体直流电阻测试装置，包括用于支撑导体的底座和内部沿轴向贯通的压接管，导体于电位极处被切断形成中部段和位于中部段两端的端部段，中部段与端部段之间通过压接管相连接，压接管的内部在中部段与端部段之间填充有导电材料，压接管的两端分别与中部段和端部段压接。压接能够使中部段和端部段与压接管相连接处的单丝的漆膜破裂，使得单丝间接触充分，实现了导体电位极处的各单丝间的充分接触，压接管内部填充导电材料则能够使导体的断面之间接触良好，使得测试电流顺利通过。由此能够保证在导体电位极处测得准确的电压值，避免由于焊接产生高温给导体电阻测量带来的不确定性。 |
