一种芯片测试压块衬套防呆设计结构

基本信息

申请号 CN202022366983.4 申请日 -
公开(公告)号 CN213482296U 公开(公告)日 2021-06-18
申请公布号 CN213482296U 申请公布日 2021-06-18
分类号 G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 袁凤国 申请(专利权)人 成都卓芯科技有限公司
代理机构 北京久维律师事务所 代理人 邢江峰
地址 610000四川省成都市双流区东升街道成都芯谷产业园区集中区
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开一种芯片测试压块衬套防呆设计结构,属于芯片测试技术领域,包括测试压块本体,所述测试压块本体的四角处皆开设有安装孔,所述测试压块本体的中间位置处开设有通槽,且通槽的内部设置有测试压头机构,所述测试压头机构的外侧设置有滑动机构。本实用新型测试压头机构外部矩形滑槽、滑杆、矩形压板、定位螺栓组成的滑动机构的设置,能够在使用的时,对测试压头机构的位置进行调整,方便对不同大小的芯片进行使用,实用性更高,定位滑孔外部纵向安装槽、横向安装槽、固定板、夹块、螺杆、双向内螺管组成的固定机构的设置,通过对双向内螺管的转动,能够控制两组弧形夹块相对运动,方便对衬套进行安装与固定,使用更加方便。